1min工頻耐壓試驗

開關設備和控制設備應該承受短時工頻耐受電壓試驗，對每一試驗條件，應該把試驗電壓升高到試驗值維持1min。

應該進行干試驗，對戶外開關設備和控制設備還應進行濕試。

隔離斷口可以按下述方法進行試驗：

優(yōu)選方法：這時加在兩側端子上的兩個電壓都不低于相對地耐受電壓的三分之一；

替代方法：對額定電壓低于 72.5kV的金屬封閉氣體絕緣開關裝置和任一電壓的普通開關裝置底架的對地電壓不需要準確的調整，甚至可以把底架絕緣。

雷電沖擊耐壓試驗

開關設備和控制設備只應該在干燥狀態(tài)下承受雷電沖擊試驗。標準雷電沖擊波標準雷電沖擊電壓是指波前時間7為1.2us,半波峰值時間 7為50us 的光滑的雷電沖擊全波。表示為1.2/50us 沖擊。

以下偏差為雷電沖擊波標準規(guī)定與實際記錄值之間的允許偏差：

峰值士3%

波前時間士30%

半峰波值士20%

對試品施加15次具有規(guī)定波形和極性的耐受電壓，如果在自恢復絕緣上發(fā)生不超過2次破壞性放電，且按有關技術委員會規(guī)定的檢測方法確定非自恢復絕緣上無損傷，則認為通過試驗。除非有關委員會另有規(guī)定，試驗程序應按如下進行：

沖擊次數(shù)至少15次;

在非自恢復絕緣上不應出現(xiàn)非破壞性放電；如不能證實，可通過最后一次破壞性放電后連續(xù)施加3次沖擊耐受來確認；

破壞性放電的次數(shù)不應超過2次(此次數(shù)是指從第1次施加沖擊到最后1次施加沖擊的合計破壞性放電次數(shù)，且僅發(fā)生在自恢復絕緣上；

但后5次沖擊中出現(xiàn)的破壞性放電不得超過1次。如果后5次沖擊中出現(xiàn)1次破壞性放電，則應增加5次附加的沖擊試驗來驗證，該附加的試驗中不應出現(xiàn)破壞性放電。

操作沖擊耐壓試驗

標準操作沖擊是到峰值時間 T為 250us,半峰波值時間 72為 2500us 的沖擊電壓，表示為250/2500us沖擊。對于標準和特殊操作沖擊，規(guī)定值和實測值之間允許下列偏差：

峰值士3%

波前時間士20%

半峰波值士60%

人工污穢試驗

凝露試驗

DL/T539-1993 戶內交流高壓開關柜和部件凝露及污穢試驗技術條件

局部放電測試

引用標準：GB/T7354-2003局部放電測量

1、導體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電。這種放電可以在導體間發(fā)生也可以不在導體間發(fā)生。

注:
局放一般是由絕緣體導體內部和絕緣表面局部電場特別集中而引起的，通常這種放電表現(xiàn)為持續(xù)時間小于 1us的脈沖。但是也可能出現(xiàn)連續(xù)的形式，比如氣體介質中的所謂無脈沖放電，通常用本標準中的方法檢測不到這類放電。

電暈是局放的一種方式，它常發(fā)生在遠離固體和液體絕緣的導體周圍的氣體介質中,“電暈”不宜被用作且有局放形式的通用術語。

局放通常伴隨著聲、光、熱和化學反應等現(xiàn)象。

校準

校準程序

完整試驗回路中測量系統(tǒng)校準是用確定視在電荷測量的刻度因數(shù)k，因為試品電容a會影響回路的特性一，因此，要對每一個新的試品分別進行校準，除非試驗中一系列類似的試品的電容值都在平均值的士10%以內。

完整試驗回路中測量系統(tǒng)的校準是在試品的兩端注入已知電荷量q0的短時電流脈沖。q0值由校準器性能試驗的結果取得。

電流脈沖一般由校準器產(chǎn)生,該校準器由能產(chǎn)生幅值為Uo的階躍電壓脈沖發(fā)生器和電容 Co聯(lián)構成,因此，校準脈沖提供電荷，其電荷值為
q0= U0C0。
校準器的性能試驗局放測量的準確度要靠校準器的準確度來保障，因此，校準器的第一次性能試驗宜溯源到國家標準以便認可。應進行以下性能試驗:

校準器的所有標稱量程下的實際電荷 q0的確定，其不確定度宜保持在其標稱值的土5%或者±1%pC內，取兩者中大的一個，這些q0值是使用校準器時可能用到的電荷的實際值。

階躍電壓 Uo上升時間t的確定，其不確定度為士10%。

用脈沖計數(shù)器確定脈沖重復頻率N，其不確定度為士1%。這一要求僅適用于脈沖重復率n的計數(shù)校準。

對試品的要求試驗之前，試品宜按照有關技術委員會規(guī)定的程序進行預處理，如果沒有則：

試品外絕緣的表面必須是清潔干燥的，因為絕緣表面的污穢和受潮會產(chǎn)生局部放電；

試品試驗時宜處于與此環(huán)境溫度；

在試驗之前剛剛接受過機械、熱和電氣的作用會影響試驗的結果，為了保護良好的可重復性，在受作用之后至局放試驗之間，允許停放一段時間。

控制回路的1min工頻耐壓試驗

操動機構的二次回路及元件應進行試驗電壓2kV、持續(xù)時間1min 的工頻耐壓試驗;或試驗電壓為 2.5kV、持續(xù)時間1s 的試驗電壓。