智能互感器測試儀的低頻法測試原理。

  1、低頻法測試原理

  IEC60044-6標(biāo)準(zhǔn)（對應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)GB16847-1977）聲稱，CT的測試可以在比額定頻率低的情況下進(jìn)行，避免繞組和二次端子承受不能容許的電壓。

  智能互感器測試儀CT伏安特性測量的原理電路如下圖：CT一次側(cè)開路，從二次側(cè)施加電壓，測量所加電壓V與輸入電流I的關(guān)系曲線。此曲線近似CT的勵磁電勢E與勵磁電流I的關(guān)系曲線。
  設(shè)CT勵磁繞組在某一勵磁電流I時的激磁電感為L，激磁阻抗為Z，則：

  V = I·Z

  智能互感器測試儀電感L與阻抗Z之間具有下述關(guān)系：

  Z = ω·L = 2 π f L

  則：V= I·2 π f L

  由智能互感器測試儀公式中可見在某一激磁電感L時所加電壓V與頻率f成正比關(guān)系。

  假設(shè)當(dāng)f = 50Hz時，為達(dá)到勵磁電流Ix，所需施加的電壓Vx為2000V

  Vx = Ix·2 π f L = 2000V，

  若施加不同頻率： f = 50Hz，Vx ＝ 2000V

  f = 5Hz， Vx ≌ 200V

  f = 0.5Hz，Vx ≌ 20V

  由此可見智能互感器測試儀需要使CT進(jìn)入相同飽和程度，施加較低頻率信號所需電壓可以大幅度降低這就是變頻法的基本原理。

  在此智能互感器測試儀必須嚴(yán)格注意，所需電壓并非與頻率呈線性比例關(guān)系，并非隨著頻率等比例降低，需要嚴(yán)格按照互感器的精確數(shù)學(xué)模型進(jìn)行完整的理論計算。