沖擊電壓試驗(yàn)

沖擊電壓的試驗(yàn)按GB14598.27-2008中10.5.3.1規(guī)定的方法進(jìn)行

試驗(yàn)部位

除非另有規(guī)定，對(duì)下列部位進(jìn)行試驗(yàn)：

在規(guī)定采用同一沖擊電壓的每個(gè)電路(或每組電路)與外露可導(dǎo)電部分之間，對(duì)該電路(或該組電路)施加規(guī)定的沖擊電壓；

獨(dú)立的電路之間進(jìn)行,每個(gè)獨(dú)立電路的端子連接在一起;b)e)給定電路的端子之間進(jìn)行。

試驗(yàn)中未涉及的電路應(yīng)連接在一起并接地。

除非很明顯,獨(dú)立電路是由制造商描述的那些電路。

對(duì)于具有絕緣外殼的設(shè)備，外露可導(dǎo)電部件應(yīng)由一個(gè)金屬箔代表。此金屬箔覆蓋除端子之外的整個(gè)設(shè)備外殼，各端子四周應(yīng)留出合適的間隙以避免對(duì)端子發(fā)生閃絡(luò)。除非另有規(guī)定,兩個(gè)獨(dú)立電路之間的試驗(yàn),應(yīng)以這兩個(gè)電路所規(guī)定的較高的沖擊電壓施加。

如果并非由于電氣擊穿引起，施加到與浪涌抑制、感性器件或分壓器件連接的各測(cè)試點(diǎn)上的沖擊電壓波形允許衰減或畸變。除非絕緣不能耐受沖擊電壓試驗(yàn),施加到?jīng)]有和這些器件連接的測(cè)試點(diǎn)上的波形不應(yīng)顯著衰減或畸變。

試驗(yàn)電壓

除另有規(guī)定外，直接與交流或直流電源輸入連接的電路，以及與電壓互感器或電流互感器連接的設(shè)備的電路試驗(yàn)電壓為5kV，其他電路試驗(yàn)電壓為1kV當(dāng)試驗(yàn)在設(shè)備的兩個(gè)獨(dú)立電路之間進(jìn)行時(shí)，應(yīng)采用這兩個(gè)額定沖擊電壓中的較高值。

波形和發(fā)生器特性

發(fā)生器的參數(shù)為:

波前時(shí)間：1.2(1士30%)us；

半峰值時(shí)間：50(1士20%)μs；

輸出阻抗：500(1士10%)Ω；

輸出能量：0.5(1士10%)J。

每根試驗(yàn)導(dǎo)線的長(zhǎng)度不應(yīng)超過2m。

試驗(yàn)程序

沖擊電壓應(yīng)施加到從設(shè)備外部可接近的合適的點(diǎn)上，其他電路和外露的可導(dǎo)電部分應(yīng)連接在一起并接地。

電氣間隙的驗(yàn)證試驗(yàn),在每一極性施加3次沖擊，且沖擊間隔至少為1s。

固體絕緣能力的驗(yàn)證試驗(yàn)，在每個(gè)極性施加5次沖擊，并應(yīng)記錄每次沖擊的波形。

用于電氣間隙和固體絕緣的這兩個(gè)試驗(yàn)可以合并為一個(gè)通用的試驗(yàn)程序。

如有必要,對(duì)于新的設(shè)備可重復(fù)進(jìn)行沖擊電壓試驗(yàn)以驗(yàn)證其性能。該試驗(yàn)電壓值應(yīng)等于原來(lái)規(guī)定值的0.75倍,或由制造廠指明。

試驗(yàn)驗(yàn)收準(zhǔn)則

試驗(yàn)期間不應(yīng)出現(xiàn)破壞性放電(火花、閃絡(luò)或擊穿)。未造成擊穿的電氣間隙的局部放電可被忽略此項(xiàng)試驗(yàn)后,設(shè)備應(yīng)滿足所有相關(guān)的性能要求。