采用沖擊電壓發(fā)生器進(jìn)行沖擊電壓耐受電壓試驗(yàn)，試驗(yàn)程序

  沖擊電壓試驗(yàn)的試驗(yàn)程序與試品性質(zhì)有關(guān)。由有關(guān)規(guī)定應(yīng)采用哪一種程序。在程序A、B和C中，施加到試品上的電壓僅僅是規(guī)定的耐受值，而在程序D中，必須施加幾個(gè)電壓等級(jí)。

  注：不同程序的“試驗(yàn)?zāi)康摹辈煌?，但?duì)絕緣配合(GB311.1)來(lái)講，假定試驗(yàn)結(jié)果是相同的，

  耐受電壓試驗(yàn)程序A

  沖擊電壓發(fā)生器對(duì)試品施加3次具有規(guī)定波形和極性的耐受電壓。如果按有關(guān)技術(shù)委員會(huì)規(guī)定的檢測(cè)方法未發(fā)現(xiàn)損壞，則認(rèn)為通過(guò)試驗(yàn)。注：這種程序推薦用于非自恢復(fù)絕緣。

  耐受電壓試驗(yàn)程序B

  沖擊電壓發(fā)生器對(duì)試品施加15次具有規(guī)定波形和極性的耐受電壓，如果在自恢復(fù)絕緣上發(fā)生不超過(guò)2次破壞性放電，且按有關(guān)技術(shù)委員會(huì)規(guī)定的檢測(cè)方法確定非自恢復(fù)絕緣上無(wú)損傷，則認(rèn)為通過(guò)試驗(yàn)。除非另有規(guī)定，試驗(yàn)程序應(yīng)按如下規(guī)定進(jìn)行：

  1)沖擊次數(shù)至少15次;

  2)非自恢復(fù)絕緣上不應(yīng)出現(xiàn)破壞性放電;如不能證實(shí)，可通過(guò)在最后一次破壞性放電后連續(xù)施加3次沖擊耐受來(lái)確認(rèn);

  3)破壞性放電的次數(shù)不應(yīng)超過(guò)2次(此次數(shù)是指從第1次施加沖擊至最后1次施加沖擊的合計(jì)破壞性放電次數(shù)，且僅發(fā)生在自恢復(fù)絕緣上);

  4)如果在第13次全第15次沖擊中發(fā)生1次破壞性放電，則在放電發(fā)生后連續(xù)追加3次沖擊(總沖擊次數(shù)最多18次)。如果在追加的3次沖擊中沒(méi)有再發(fā)生破壞性放電，則認(rèn)為試品通過(guò)試驗(yàn)。

  耐受電壓試驗(yàn)程序C

  沖擊電壓發(fā)生器對(duì)試品施加3次具有規(guī)定波形和極性的耐受電壓，如果沒(méi)有發(fā)生破壞性放電，則認(rèn)為通過(guò)試驗(yàn);如果發(fā)生破壞放電超過(guò)1次，則試品未通過(guò)試驗(yàn);如果僅在自恢復(fù)絕緣上發(fā)生1次破壞性放電，則再加9次沖擊，如再無(wú)破壞性放電發(fā)生，則試驗(yàn)通過(guò)。

  如果在試驗(yàn)期間按有關(guān)技術(shù)委員會(huì)規(guī)定的檢測(cè)方法發(fā)現(xiàn)非自恢復(fù)絕緣部分有任何損壞，則試品未通過(guò)試驗(yàn)。

  耐受電壓試驗(yàn)程序D

  自恢復(fù)絕緣的10%沖擊破壞性放電電壓U10由附錄A闡述的統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)程序估算。

  這些試驗(yàn)方法允許直接估算U1o和U50或者間接估算U10。

  對(duì)于后一種情況， U10可由以下關(guān)系式從Uso導(dǎo)出：U50(1-1.3s')

  有關(guān)規(guī)定破壞性放電電壓的標(biāo)準(zhǔn)偏差s的假定值，對(duì)于不包含任何其他絕緣的空氣絕緣干試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)偏差標(biāo)幺值取s'=0.03。

  如果Ul0不低于規(guī)定的沖擊耐受電壓值，則滿足試驗(yàn)要求。

  有兩種試驗(yàn)方法可確定50%放電電壓值U50：

  a)多級(jí)法：電壓級(jí)數(shù)m≥4，每級(jí)沖擊次數(shù)ni≥10;

  b)升降法：每級(jí)沖擊次數(shù)n=1，有效沖擊次數(shù)m≥20。

  為估算U10，可采用每級(jí)不超過(guò)7次沖擊，至少8個(gè)有效電壓級(jí)的升降法。

  電壓級(jí)差△U約為U50估算值的1.5%~3%。